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详细介绍一下PFEIFFER CMR364 真空计的耐污染能力

点击次数:15 更新时间:2026-04-01

详细介绍一下PFEIFFER CMR364 真空计的耐污染能力

PFEIFFER CMR364 真空计凭借陶瓷电容传感结构、全金属 / 陶瓷流路、无热丝设计,在耐污染、抗腐蚀、抗粉尘 / 蒸汽方面表现突出,是中低真空恶劣工况的优选方案。

一、核心耐污染设计原理

陶瓷电容膜片(99.5% Al₂O₃):传感器核心为高致密、高硬度陶瓷,表面光滑、无孔隙、化学惰性强,不易吸附 / 黏附污染物,粉尘、油蒸汽、镀膜前驱体难以附着或渗入。

无热丝、无加热元件:无高温部件,不会造成污染物热分解、碳化或结焦,避免传统热导 / 电离规常见的污染累积与性能劣化。

全密封、无活动机械件:无摩擦、无磨损,污染物无法进入内部电路腔,长期稳定性不受机械损耗影响。

流路材质:316L 不锈钢 + 高纯陶瓷:与真空接触的全部表面均为耐腐蚀、抗污染材质,无易被腐蚀 / 污染的非金属密封或涂层。

二、关键耐污染能力表现

1. 抗粉尘与固体颗粒污染

陶瓷膜片表面不易积尘,轻微粉尘不影响电容测量;

可耐受真空系统中常见的金属粉尘、陶瓷粉尘、粉末冶金粉尘等;

无内部缝隙与死角,颗粒不易卡滞、堆积,无需频繁拆解清洁。

2. 抗油蒸汽与有机蒸汽污染

陶瓷表面低吸附、低浸润,油蒸汽、溶剂蒸汽、聚合物蒸汽不易形成连续膜;

无加热丝,不会发生油裂解、结焦,避免传统热导规常见的 “油污染漂移";

污染后可通过真空烘烤、惰性气体吹扫恢复性能,无需更换传感器。

3. 抗腐蚀性气体与介质污染

全系列兼容腐蚀性气体:HCl、NH₃、Cl₂、H₂S、氟化物、酸性 / 碱性蒸汽等;

陶瓷与 316L 不锈钢抗化学腐蚀,长期接触腐蚀性介质无明显腐蚀、无材料析出;

测量与气体种类无关,腐蚀气体不改变测量原理与精度,无需气体修正。

4. 抗镀膜与工艺副产物污染

适合 PVD、CVD、ALD、刻蚀等易产生镀膜 / 沉积物的工艺;

陶瓷膜片不易被金属膜、介质膜覆盖,轻微镀膜不显著影响零点与线性;

相比金属膜片规,陶瓷更耐镀膜侵蚀、更易清洁再生。

5. 耐空气冲击与反复放气

可直接承受大气压冲击,无需保护阀;反复通大气、抽真空不损伤传感器;

空气、水汽进入后不易造成污染,快速抽真空即可恢复测量。

三、污染耐受的技术保障

零点长期稳定:陶瓷无记忆效应、无老化,污染后零点漂移小,免频繁校准;

温度补偿完善:内置温度补偿,污染 / 温度变化不叠加导致大幅误差;

结构紧凑、易清洁:无复杂内部结构,可通过真空烘烤、等离子清洗、溶剂擦拭(外部)恢复性能。

四、适用污染场景

真空镀膜(PVD/CVD/ALD)

半导体刻蚀、沉积工艺

真空炉、热处理、粉末冶金

化工、制药、腐蚀气体真空系统

含粉尘、油蒸汽、有机蒸汽的工业真空

频繁通大气、需高可靠性的真空设备

五、与其他类型真空计对比(耐污染维度)

表格

特性    CMR364(陶瓷电容)    热导规(皮拉尼)    电离规

抗粉尘    优秀    一般(易积尘)    差

抗油蒸汽    优秀    差(易结焦)    差

抗腐蚀气体    优秀    一般(热丝易腐蚀)    差

抗镀膜    良好    差    极差

耐大气压冲击    优秀    一般    极差

污染后恢复    易(烘烤 / 吹扫)    难(常需更换)    极难

六、PFEIFFER CMR364 真空计维护与污染后处理建议

常规维护:定期真空烘烤(100–150℃) 去除吸附的水汽与有机蒸汽;

轻度污染:用干燥氮气 / 氩气吹扫传感器入口;

重度镀膜 / 污染:可等离子清洗或温和溶剂(如异丙醇)擦拭外部,内部严禁液体侵入;

避免:液态水、强酸强碱、高浓度颗粒直接冲击传感器膜片。

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